Piovesan, T. et al. 2021. Método para Quantificação de Perdas em Semicondutores Aplicados a Conversores Estáticos Devido aos Elementos Parasitas da Placa de Circuito Impresso. Eletrônica de Potência. 26, 1 (Mar. 2021), 42–52. DOI:https://doi.org/10.18618/REP.2021.1.0040.