Piovesan, T., Sartori, H. C., Bender, V. C., & Pinheiro, J. R. (2021). Método para Quantificação de Perdas em Semicondutores Aplicados a Conversores Estáticos Devido aos Elementos Parasitas da Placa de Circuito Impresso. Eletrônica De Potência, 26(1), 42–52. https://doi.org/10.18618/REP.2021.1.0040