RIBEIRO, Fabiano Mendes; HEINRICH, Rodrigo; NOVAES, Yales R. Minimização dos efeitos de elementos parasitas em circuitos de Double Pulse Test para GaN HEMT. Eletrônica de Potência, [S. l.], v. 30, p. e202541, 2025. DOI: 10.18618/REP.e202541. Disponível em: https://journal.sobraep.org.br/index.php/rep/article/view/1033. Acesso em: 23 jul. 2025.