PIOVESAN, Tális; SARTORI, Hamiltom Confortim; BENDER, Vitor Cristiano; PINHEIRO, José Renes. Método para Quantificação de Perdas em Semicondutores Aplicados a Conversores Estáticos Devido aos Elementos Parasitas da Placa de Circuito Impresso. Eletrônica de Potência, [S. l.], v. 26, n. 1, p. 42–52, 2021. DOI: 10.18618/REP.2021.1.0040. Disponível em: https://journal.sobraep.org.br/index.php/rep/article/view/146. Acesso em: 24 nov. 2024.