Ribeiro, Fabiano Mendes, Rodrigo Heinrich, and Yales R. Novaes. 2025. “Minimização Dos Efeitos De Elementos Parasitas Em Circuitos De Double Pulse Test Para GaN HEMT”. Eletrônica De Potência 30 (July):e202541. https://doi.org/10.18618/REP.e202541.