Piovesan, T. (2021) “Método para Quantificação de Perdas em Semicondutores Aplicados a Conversores Estáticos Devido aos Elementos Parasitas da Placa de Circuito Impresso”, Eletrônica de Potência, 26(1), pp. 42–52. doi: 10.18618/REP.2021.1.0040.