T. Piovesan, H. C. Sartori, V. C. Bender, and J. R. Pinheiro, “Método para Quantificação de Perdas em Semicondutores Aplicados a Conversores Estáticos Devido aos Elementos Parasitas da Placa de Circuito Impresso”, Eletrônica de Potência, vol. 26, no. 1, pp. 42–52, Mar. 2021.