Piovesan, Tális, et al. “Método Para Quantificação De Perdas Em Semicondutores Aplicados a Conversores Estáticos Devido Aos Elementos Parasitas Da Placa De Circuito Impresso”. Eletrônica De Potência, vol. 26, no. 1, Mar. 2021, pp. 42-52, doi:10.18618/REP.2021.1.0040.