Ribeiro, Fabiano Mendes, Rodrigo Heinrich, and Yales R. Novaes. “Minimização Dos Efeitos De Elementos Parasitas Em Circuitos De Double Pulse Test Para GaN HEMT”. Eletrônica de Potência 30 (July 16, 2025): e202541. Accessed July 23, 2025. https://journal.sobraep.org.br/index.php/rep/article/view/1033.