Piovesan, Tális, Hamiltom Confortim Sartori, Vitor Cristiano Bender, and José Renes Pinheiro. “Método Para Quantificação De Perdas Em Semicondutores Aplicados a Conversores Estáticos Devido Aos Elementos Parasitas Da Placa De Circuito Impresso”. Eletrônica de Potência 26, no. 1 (March 31, 2021): 42–52. Accessed October 18, 2024. https://journal.sobraep.org.br/index.php/rep/article/view/146.